集成电路卡产品测试大纲(46页)-经营管理(编辑修改稿)

集成电路卡产品测试大纲(46页)-经营管理(编辑修改稿)内容摘要：

...................................................................................................................................... 29 冲击试验 ............................................................................................................................................................................ 29 碰撞试验 ............................................................................................................................................................................ 29 包装跌落 ............................................................................................................................................................................ 30 IV 无线电骚扰 ....................................................................................................................................................................... 30 抗扰度 ................................................................................................................................................................................ 31 安全 .................................................................................................................................................................................... 31 可靠性 ................................................................................................................................................................................ 31 5 检验报告格式参考 ................................................................................................................................................................ 33 1 引言 为配合集成电路卡 (以下简称 IC 卡 )及集成电路卡读写机 (以下简称 IC 卡读写机 )产品生产许可证的产品检验工作，特制定《集成电路卡及集成电路卡读写机产品测试大纲》（以下简称《大纲》）。 本《大纲》对 IC 卡 (带触点、无触点 )、 IC 卡读写机及相关产品提供测试方法和判据。 本《 大纲》共分三部分，第一部分《接触式 (带触点 )IC 卡测试大纲》、第二部分《非接触式 (无触点 )IC卡测试大纲》、第三部分《 IC 卡 (接触、非接触 )读写机测试大纲》。 本《大纲》供 IC 卡、 IC 卡读写机及相关产品的生产企业和检验机构对产品进行检测时的检验、判定依据，也可以作为 IC 卡、IC 卡读写机产品质量国家、行业监督抽查的检验、判定依据。 2 第一部分 接触式 (带触点 )IC 卡测试大纲 1 测试依据 测试根据： GB/T (ISO/:1998)《识别卡 带触点的集成电路卡 第 1 部分：物理特性》， GB/T (ISO/IEC :1999)《识别卡 带触点的集成电路卡 第 2 部分：触点的尺寸与位置》， GB/T (ISO/IEC :1997)《识别卡 带触点的集成电路卡 第 3 部分：电信号和传输协议》， GB/T 149162020 (ISO/IEC 7810： 2020)《识别卡 物理特性》， GB/T （ ISO/IEC103731： 1998）《识别卡 测试方法 第 1 部分：一般特性测试》， GB/T （ ISO/IEC103733： 2020）《识别卡 测试方法 第 3 部分：带触点的集成电路卡及其相关接口设备》GB/T 182392020《集成电路 (IC)卡读写机通用规范》， ISO/IEC 10373《集成电路卡 测试方法》 ， ISO/IEC 7816《 识别卡 带触点的集成电路卡 》， ISO/IEC 7810《识别卡 物理特性》， CJ/T 166《建设事业集成电路（ IC）卡应用技术》等。 测试样品分配和测试结果综合判定依据《集成电路卡及集成电路卡读写机 产品生产许可证实施细则 》中“ IC 卡及 IC 卡读写机产品生产许可证检验项目及判定标准 ”执行。 2 测试所需设备 三维轮廓投影检测仪 集成电路卡接触式高度检测仪 集成电路卡动态弯曲测试仪 集成电路卡动态扭曲测试仪 集成电路卡弯曲韧性检测仪 集成电路卡粘合力检测台 集成电路卡抗电磁场性能检测仪 集成电路卡抗静电性能检测仪 紫外辐照仪 垂直水平燃烧箱 集成电路卡接触电阻检测仪 IC 卡测试仪 温度 /湿度试验箱 毫欧表 测试软件 数字示波器 横电磁波传输室 IC 卡通用读写器 3 三轮测试仪等 3 判定原则 测试结论分为：“符合”或“不符合 ”，如测试结果和标准要求完全相符则该项测试符合，否则为不符合。 只要有一项否决检验项目不符合时，综合判定此次检验不合格。 4 测试内容 卡复位和电特性 测试项目 对样品进行 卡复位和电特性 检测。 测试项目编号 1 测试目的 检查卡的电特性是否符合标准要求。 测试方法步骤 ①检查试验设备状态并确认状态设置正确；②按照试验设备的操作规定，将样品正确装入试验设备，无误后启动设备进行测试；③先做卡复位测试，确认样品功能正常，再对卡的 电特性进行测试； ④对测试结果进行判断、记录。 要求 应符合 GB/T 的要求。 测试结论 符合 ( ) 不符合 ( ) 卡尺寸 测试项目 对样品进行尺寸检测。 测试项目编号 2 测试目的 检查卡的 尺寸 是否符合标准要求。 测试方法步骤 1． 卡尺寸测试： ① 检查测量设备状态并确认状态设置正确；②将样卡放在水平刚性平台上，压上177。 的负荷，无误后启动设备进行测量；③对测量结果进行判断、记录。 2． 厚度测试： ① 检查测量设备状态并确认状态设置正确； ；②按照试验设备的操作规定，将样品正确装入试验设备，对卡施加 ～ ，对卡的四个象限 进行测试；③对测试结果进行判断、记录。 要求 应符合 GB/T 149162020 5 的要求。 测试结论 符合 ( ) 不符合 ( ) 4 触点的表面轮廓 测试项目 对触点的表面轮廓检测。 测试项目编号 3 测试目的 检查 IC 卡触点和 IC 卡的表面之间的厚度差别是否符合标准要求。 测试方法步骤 ①检查试验设备状态并确认状态设置正确；②将样卡放在刚性平台上，无误后启动设备进行测量；③对测量结果进行判断、记录。 要求 应符合 GB/T 的要求。 测试结论 符合 ( ) 不符合 ( ) 触点的尺寸和位置 测试项目 对触点的尺寸和位置检测。 测试项目编号 4 测试目的 检查触点的尺寸和位置是否符合标准要求。 测试方法步骤 ① 检查测量设备状态并确认状态设置正确；②将样卡放在水平刚性平台上，压上177。 的负荷，无误后启动设备进行测量；③对测量结果进行判断、记录。 要求 应符合 GB/ 的要求。 测试结论 符合 ( ) 不符合 ( ) 卡的翘曲 测试项目 对卡的翘曲检测。 测试项目编号 5 测试目的 检查卡的翘曲是否符合标准要求。 测试方法步骤 ①检查测量设备状态并确认状态设置正确；②将样卡放在水平刚性平台上，无误后启动设备进行测量；③对测量结果进行判断、记录。 要求 应符合 GB/T 149162020 的要求。 测试结论 符合 ( ) 不符合 ( ) 温、湿度条件下卡尺寸的稳定性和翘曲 测试项目 对样品进行温、湿度条件下卡尺寸的稳定性和翘曲检测。 测试项目编号 6 5 测试目的 确定样品暴露在规定的环境 温、湿度中之后，其尺寸和平坦度是否保持在基本标准的要求范围内。 测试方法步骤 ①先对样卡进行尺寸、翘曲测量，确认样卡符合标准要求；②按照顺序：（ 35℃、50℃、相对湿度 95%177。 5%）设置试验箱的温度、相对湿度，并确认状态设置正确③将样卡水平放入试验箱内，暴露在每一种环境中 60min；④每一种环境试验结束之后，将样卡从试验箱中取出，在 23℃177。 3℃、 40%～ 60%条件下恢复 24 小时后，对样卡进行尺寸、翘曲测量，对测量结果进行判断、记录。 要求 应符合 GB/T 149162020 的要求。 测试 结论 符合 ( ) 不符合 ( ) 弯曲韧性 测试项目 对样品进行弯曲韧性检测。 测试项目编号 7 测试目的 确定卡的弯曲韧性是否符合标准要求的范围内。 测试方法步骤 ① 将样卡沿整个左边夹在检测设备上，正面朝上，测量 h1 的值。 ② 把相当于 的负荷施于该卡的整个右边 3mm 内，持续 1min，测量 h2 的值。 ③ 去掉负荷 1min后测量 h3 的值。 ④对测试结果进行判断、记录。 要求 应符合 GB/T 149162020 的要求。 测试结论 符合 ( ) 不符合 ( ) 动态弯曲应力 测试项目 对样品进行动态弯曲应力检测。 测试项目编号 8 测试目的 确定卡的弯曲应力对卡的任何机械或功能上的不利影响。 测试方法步骤 ①先对样卡做功能测试，确认所分配的样卡功能正常；②在试验机上设置弯曲次数：250 次，并确认状态设置正确；③按照试验机的操作规定，将样卡放在试验机的两个夹具之间，无误后启动设备；④试验结束时对样卡进行功能测试，对测试结果进行判断、记录。 分别对样卡的长、短边四个测试方向各弯曲 250 次。 要求 应符合 GB/:2020 的要求。 测试结论 符合 ( ) 不符合 ( ) 动态扭曲应力 6 测试项目 对样品进行动态扭曲应力检测。 测试项目编号 9 测试目的 确定由于对卡重复施加扭曲应力而引起的的任何机械或功能上的不利影响。 测试方法步骤 ①先对样卡做功能测试，确认所分配的样卡功能正常；②在试验机上设置扭曲次数：1000 次，并确认状态设置正确；③按照试验机的操作规定，将样卡放在试验机的两个夹具之间，无误后启动设备。 ④每 250 次扭曲之后，对样卡进行功能测试，对测试结果进行判断、记录。 要求 应符合 GB/:2020 的要求。 测试结论 符合 ( ) 不符合 ( ) 触点电阻 测试项目 对样品进行触点电阻检测。 测试项目编号 10 测试目的 检查卡的触点表面电阻是否符合标准要求。 测试方法步骤 ①将样卡放置在平整硬质平板上②将两个测试探针加到样卡的第一个触点上③测量加在两个触点上的测试探针之间的电阻，对测量结果进行判断、记录。 ④再移动测试探针，依次对样卡的各个触点进行测量。 要求 应符合 GB/:2020 的要求。 测试结论 符合 ( ) 不符合 ( ) 电磁场 测试项目 对样品进行电磁场检测。 测试项目编号 11 测试目的 确定电磁场对卡是否有有害影响。 测试方法步骤 ①先对样卡做功能测试，确认所分配的样卡功能正常；②检查试验设备状态并确认状态设置正确；③将样卡放入静磁场中；④试验结束对样卡进行功能测试，对测试结果进行判断、记录。 要求 应符合 GB/:2020 的要求。 测试结论 符合 ( ) 不符合 ( ) 静电 7 测试项目 对样品 进行静电检测。 测试项目编号 12 测试目的 测试卡的静电是否符合标。