质量工程师内训讲义-过程能力(编辑修改稿)内容摘要:
质量特性值,且测量值之间相互独立 计算工具应方便在现场计算 S值 14 X—Rs图 XRs控制图适用场合: 小批量生产,无法获得较多数据 只能获得一个观测值 (如,生产效率、消耗定额 ) 过程质量均匀,无需多次观测 (流程型材料生产 ) 因费用或时间关系,只能取得一个观测值 (破坏性试验 ) 选用 XRs控制图的条件: 质量特性连续可计量 样本服从或近似服从正态分布 样本容量 n=1 15 Me( X) —R图 XR控制图将 X图与 R图组合使用,同时分析和监控过程的均值和离散度变化 选用 XR控制图的条件: 特性连续可计量,服从或近似服从正态分布 样本容量 n为定数,且 n 10 按时序可采集 20个以上的样本(即 k ≥ 20) 应采集同一过程的特性值,且测量值之间相互独立 ~ ~ ~ ~ 16 常规计数值控制图 固定不变 ci CL= c UCL= c+3[ c ] LCL= c3[ c ] C图 可以用缺陷数来描述的质量特性 可以变化 ui CL= u UCL= u+3[ u / ni ] LCL= u3[ u / ni ] U图 固定不变 di CL= d UCL= d+3[ d(1 d/ n) ] LCL= d3[ d(1 d/ n) ] Np图 可以用合格 /不合格、通过 /不通过等来描述的质量特性 可以变化 pi CL= p UCL= p+3[ p(1 p) / ni ] LCL= p3[ p(1 p) / ni ] p图 质量特性 样本容量 打点值 中心线 控制限 控制图 17 p图 p的含义不一定是不合格品率,它可以是某一特定属性的比率,因此 p图也常称为百分比控制图 选用 p控制图的条件: 质量特性为合格 /不合格或通过 /不通过 样本观测值服从二项分布 样本容量 n可以变化 按时序至少可采集 25个以上样本 (k ≥25) 18 np图 np图为不合格品数控制图,用来分析和监控过程中不合格品的数量 选用 np控制图的条件: 质量特性为合格 /不合格或通过 /不通过 样本观测值服从二项分布 样本容量 n可以变化 按时间顺序至少可采集 25个以上样本 (k ≥25) 描述不合格品数量比描述不合格品率更有意义或更容易报告 19 c图 c图为缺陷数控制图,用于分析和监控用缺陷数来描述的质量特性 选用 c控制图的条件: 质量特性是以缺陷数的多少判定的 样本观测值服从泊松分布 样本容量 n为定值。质量工程师内训讲义-过程能力(编辑修改稿)
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