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⑴五金、胶垫类来料材质或五金件镀材不符； ⑵五金、胶垫类来料的表面外观； ① 表面外观需注意 洁净度、完整度； ② 五金类的生锈、氧化状况； 注 ：以上检验可参照 《检验规格书》 上的封样。 二、 卡尺量测 检验员需对照 《检验规格书》 上的“技术资料”及“技术图纸”量测的项目： ⑴ 螺丝 类 ① 螺纹体的长度、直径； ② 螺丝帽的直径、厚度； ⑵ 弹簧、弹片 类

B 板板面及边缘的平整度； ⑷ PCB 拼板是否散断； 2． 将 PCB 板置于放大镜下 7080mm 处，通过放大镜目视项目： ⑴ PCB 板铜箔的状况； ⑵ PCB 板 MAK 点的状况； ⑶ PCB 板 丝印颜 色 、 大小以及 丝印位与安装焊盘、安装孔是否相符； 注 ：以上检验需检验员对照 《检验规格书》 上的“技术资料”及“技术图纸”进行。 9 AEC 深圳市亚科德电子有限公 司

3． LDO 类 ⑴输出电压不符。 （重缺陷） ⑵干扰大。 （重缺陷） 检验设备： 操作台、镊子、放大镜、静电链、测试电脑、测试架、恒温烙铁、锡线、数字万用表 检验步骤： 外观丝印检验 — 封装尺寸检验 — 可焊性检验 — 性能指标检验 一、 目测 1． 检验员佩带好 静电链 ，手拿镊子取待检料，需重点目视： ⑴ IC 外形的清洁度、完整度； ⑵ IC 引脚的完整性、氧化状况； 2． 将 IC

（重缺陷） ⑶发射管发射光谱不符。 （重缺陷） 检验设备： 操作台、镊子、放大镜、 电压源、 LED 测试架、万用表、 LED 测试机、测试电脑、暗箱 恒温烙铁、锡线 检验步骤： 外观丝印检验 — 封装尺寸检验 — 性能指标检验 — 可焊性检验 一、 目测 1． 检验员取盘（袋）装，需重点目视其标贴、包装形式，以及编带的清洁度、完整性。 5 AEC 深圳市亚科德电子有限公 司 SHENZHEN

细标准”，外，还需以下判定： 1．瑕庇（污点、起皱） (mm) 缺陷位置 重缺陷 轻缺陷 接受 彩盒前表面 ≥ ≥ R≥ ≤ 彩盒侧表面 ≥ ≥ R≥ ≤ 彩盒上盖 ≥ ≥ R≥ ≤ 两点间最小距离 100 注： 以上缺陷（ 瑕庇）不能出现在文字或图象上 2．文字或图象出现 重影、 字迹模糊、套色移位。 （重缺陷） 注：如有无法判定可参照封样、 QA 部出货标准，或者向 IQC 主管汇报。

（重缺陷） 3． 电感类 —————————————————————————— （待定） 检验设备： 操作台、镊子、放大镜、可调电压源、恒温烙铁、锡线、万用表、电容表 检验步骤： 外观丝印检验 — 封装尺寸检验 — 性能指标检验 — 可焊性检验 一、 目测 1． 检验员取盘（袋）装，需重点目视其标贴、包装形式，以及编带的清洁度、完整性。 2． 拆开编带手拿镊子取待检料，需重点目视：

振丝印的完整与正确 性； 注 ：以上检验可参照 《检验规格书》 上的封样。 二、 卡尺量测 检验员需对照 《检验规格书》 上的“技术资料”及“技术图纸” 量测的项目： ⑴晶振的外形尺寸； ⑵引脚长、直径、间距； 三、 机测 1． 检验员首先对晶振进行跌落实验。 从 75cm 高度自由跌落到 30mm 厚的 膠 木板上，跌落次数为五次

镜头置于放大镜下 7080mm 处，通过放大镜目视其通光孔内部，需重点目视通光孔的 清洁度、镜片的完整性。 3． 检验员用左手握紧螺纹体，右只手逆时针尝试扭动镜头帽，是否出现散架。 二、 卡尺量测 检验员需对照 《检验规格书》 上的“技术资料 ”及“技术图纸”量测的项目： ⑴镜头的外形尺寸 、 通光孔径； ⑵镜头座的外形尺寸 、 螺丝孔径孔位； 11 AEC 深圳市亚科德电子有限公 司

Maj 的 電容值 ,耐壓值 ,极性 與承認書及樣品一致 目視 Maj CHIP Capacitor PAD不可氧化現象。 目視 Maj ,龜裂現象。 目視 Maj 電解電容不可有破洞 ,漏液 ,變形現象 .接腳不可有氧化發黑 ,污物 ,露銅現象。 目視 Maj 2. 尺寸 ,寬度不符合承認書規格。 卡尺 Maj ,腳徑不符合承認書規格。 卡尺 Maj ， 編帶不可彎曲變形。 卡尺 Maj 3.

公桌上亂涂亂畫 . 625 鞋子統一排放在床底下 ,排成直線 ( 面朝床位 ,上左下右 ,睡上鋪的鞋放在左邊 ,睡下鋪的鞋放在右邊 )或柜子里 ,牙刷﹑牙膏﹑茶缸放在洗漱間里或桌子上 ,臉盆﹑腳盆等統一放在洗漱間 ,掃帚﹑簸箕﹑拖把﹑煙灰缸統一放于陽台上 . 626 除公司原有之家具外 ,不得擅自帶家私或其它大型物品進宿舍 . 63 員工夫妻宿舍申請要求 : 631 夫妻二人同在公司工作 .