超声检测工艺卡

超声检测工艺卡内容摘要：

指标应符合 JB/T10061 的规定。 探头 晶片面积一般不应大于 500mm2，且任一边长原则上不大于 25mm。 单斜探头声束轴线水平偏离角不应大于 2176。 ，主声束垂直方向不应有明显的双峰。 超声探伤仪和探头的系统性能 在达到所探工件的最大检测声程时，其有效灵敏度余量应不小于 10dB。 仪器和探头的组合频率与公称频率误差不得大于177。 10%。 仪器和直探头组合的始脉冲宽度（在基准灵敏度下）：对于频率为 5MHz 的探头，宽度不大于 10mm；对于频率为 的探头，宽度不大于 15mm。 直探头的远场分辨力应不小于 30dB，斜探头的远场分辨力应不小于 6dB。 仪器和探头的系统性能应按 JB/T 9214 和 JB/T 10062的规定进行测试。 检测面的确定，应保证工件被检部分均能得到充分检查。 焊缝的表面质量应经外观检测合格。 所有影响超声检测的锈蚀、飞溅和污物等都应予以清除，其表面粗糙度应符合检测要求。 表面的不规则状态不得影响检测结果的正确性和完整性，否则应做适当的处理。 扫查覆盖率 为确保检测时超声声束能扫查到工件的整个被检区域，探头的每次扫查覆盖率应大于探头直径 的 15%。 探头的移动速度 探头的扫查速度不应超过 150mm/s。 当采用自动报警装置扫查时，不受此限。 扫查灵敏度 扫查灵敏度通常不得低于基准灵敏度。 耦合剂 应采用透声性好，且不损伤检测表面的耦合剂，如机油、浆糊、甘油和水等。 灵敏度补偿 a) 耦合补偿。 在检测和缺陷定量时，应对由表面粗糙度引起的耦合损失进行补偿。 b) 衰减补偿。 在检测和缺陷定量时，应对材质衰减引起的检测灵敏度下降和缺陷定量误差进行补偿。 c) 曲面补偿。 对探测面是曲面的工件，应采用曲率半径与工件相同或相近的试块，通过对比试验进行曲率补偿。 系统校准和复核 一般要求 校准应在标准试块上进行，校准中应使探头主声束垂直对准反射体的反射面，以获得稳定的和最大的反射信号。 仪器校准 每隔三个月至少对仪器的水平线性和垂直线性进行一次测定，测定方法按 JB/T 10061 的规定进行。 新购探头测定 新购探头应有探头性能参数说明书，新探头使用前应进行前沿距离、 K 值、主声束偏离、灵敏度余量和分辨力等主要 参数的测定。 测定应按 JB/T 10062 的有关规定进行，并满足其要求。 检测前仪器和探头系统测定 使用仪器 斜探头系统，检测前应测定前沿距离、 K 值和主声束偏离，调节或复核扫描量程和扫查灵敏度。 使用仪器 直探头系统，检测前应测定始脉冲宽度、灵敏度余量和分辨力，调节或复核扫描量程和扫查灵敏度。 检测过程中仪器和探头系统的复核 遇有下述情况应对系统进行复核： a) 校准后的探头、耦合剂和仪器调节旋钮发生改变时； b) 检测人员怀疑扫描量程或 扫查灵敏度有变化时； c) 连续工作 4h 以上时； d) 工作结束时。 检测结束前仪器和探头系统的复核 a) 每次检测结束前，应对扫描量程进行复核。 如果任意一点在扫描线上的偏移超过扫描线读数的 10%，则扫描量程应重新调整，并对上一次复核以来所有的检测部位进行复检。 b) 每次检测结束前，应对扫查灵敏度进行复核。 一。