材料分析测试技术课程试卷及答案内容摘要：
衍射强度分布变化，又称干涉函数。 2. 聚焦圆 —— 试样对入射 X 射线产生衍射后能聚焦到探测器上，此时辐射源、试样和探测器三者位于同一个圆周上，这个圆称之聚焦圆。 3. 景深与焦长 —— 在成一幅清晰像的前提下，像平面不变，景物沿光轴前后移动的距离称“景深”；景物不动，像平面沿光轴前后移动的距离称“焦长”。 4. 应变场衬度 —— 由于应变导致样品下表面衍射波振幅与强度改变，产生的衬度称应变场衬度；衬度范围 对应应变场大小。 5. 背散射电子 —— 入射电子被样品原子散射回来的部分；它包括弹性散射和非弹性散射部分；背散射电子的作用深度大，产额大小取决于样品原子种类和样品形状。 五、 问答题：（ 36 分 /每题 9 分） 1. X 射线学有几个分支。 每个分支的研究对象是什么。 答： X 射线学有三个分支： X 射线透射学， X 射线衍射学， X 射线光谱学。 X 射线透射学研究X 射线透过物质后的强度衰减规律，由此可以研究探测物体内部形貌与缺陷； X 射线衍射学研究晶体对 X 射线的衍射规律，由此可以通过 X 射线衍射研究晶体结构与进行物相分析等；X 射线光谱学研究特征 X 射线与物质元素的关系，由此可以根据特征 X 射线分析样品组成。 2. 图题为某样品德拜相（示意图），摄照时未经滤波。 巳知 2 为同一晶面衍射线， 4为另一晶面衍射线．试对此现象作出解释． 答：根据衍射图发现每个晶面都有两条衍射线，说明入射线存在两个波长。 由于没有采用滤波装置，那么很可能是 Kα 、 Kβ 共同衍射的结果。 3. 分别说明成像操作与衍射操作时各级透镜（像平面与物平面）之间的相对位置关系，并画出光路图。 答 ：成像操作时中间镜是以物镜的像作为物成像，然后由投影镜进一步放大投到荧光屏上，即中间镜的物平面与物镜的像平面重合。阅读剩余 0%
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